分析装置の検索結果

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設備名 型式 メーカー 保有部局 設置場所 設置地区 管理組織 担当 内線 備考
分析装置
磁化率測定装置 MPMS-XL7TZ カンタムデザイン 工学研究院 箱崎低温センター 伊都地区 物性物理学 稲垣 3522 -
ICP発光分析装置(SPS1700HVR) SPS1700HVR セイコー 総理工学研究院 中央分析センター307 筑紫地区 総理工機器共同利用機構 永長 7525 -
全自動水平型多目的X線回析装置 SmartLab リガク 工学研究院 W3-115 伊都地区 応用化学(分子) 藤ヶ谷 2842 -
電子線マイクロアナライザー EPMA-1500 島津製作所 応用力学研究所 応力研究所材料実験棟 筑紫地区 複合連続体力学分野 松原 7760 教官が操作。依頼分析のみ。
蛍光X線分析装置(ZSX-mini) ZSX-mini 理学電機 総理工学研究院 総理工C棟107 筑紫地区 総理工機器共同利用機構 永長 7525 固体・液体両試料測定可能
超高圧物性測定装置 OH-SI 三啓 中央分析センター
(筑紫地区)
207室 筑紫地区 中央分析センター 三浦 7214 -
自動薄膜計測装置 Auto SE 堀場製作所 中央分析センター
(伊都分室)
W3号館206室 伊都地区 中央分析センター 渡辺 2857 -
高感度示差走査熱量計 DSC6220 日立ハイテクサイエンス 中央分析センター
(筑紫地区)
307室 筑紫地区 中央分析センター 三浦 7214 普通の物質
光交流法比熱測定装置 ACC-1 真空理工 中央分析センター
(筑紫地区)
204室 筑紫地区 中央分析センター 三浦 7214 厚さ100μm、4×4mmの薄膜。比熱の精密測定。潜熱は不可。
粒径測定システム ELSZ-OS 大塚電子 中央分析センター
(筑紫地区)
306室 筑紫地区 中央分析センター 三浦 7214 動的光散乱法(光子相関)。粒径測定範囲0. 6nm~7μm。
165度後方散乱。温度可変0~80℃。
超高感度示差走査熱量計 DSC6100 日立ハイテクサイエンス 中央分析センター
(筑紫地区)
306室 筑紫地区 中央分析センター 三浦 7214 生体高分子、生体膜、蛋白質、遺伝子、細胞、食品等
示差熱熱重量同時測定装置 TG/DTA7300 日立ハイテクサイエンス 中央分析センター
(伊都分室)
W3号館201室 伊都地区 中央分析センター 渡辺 2857 Pt容器は各自で
高感度示差走査熱分析装置 X-DSC7000 日立ハイテクサイエンス 中央分析センター
(伊都分室)
W3号館201室 伊都地区 中央分析センター 渡辺 2857 -
高温型示差走査熱分析装置 DSC6300 日立ハイテクサイエンス 中央分析センター
(伊都分室)
W3号館201室 伊都地区 中央分析センター 渡辺 2857 Pt容器は各自で
微小領域化学分析システム - - 理学研究院 伊都地区ウエスト1号館W1-B-205号室 伊都地区 地球惑星科学部門・理学 島田 4201 -
酵母用マイクロマニピュレーションシステムMicromanipulation System for Yeast MSM300 Singer 医学研究院 基礎A棟2階 病院地区 医化学 伊藤 6095

tito@med.

X線照射装置X-ray Irradiation Device MBR-1520R-3 HITACHI 医学研究院 総合研究棟7階 病院地区 基礎放射線医学 大野 6143

mohno@biophys.med. 事前に実験計画書を提出の上、照射スケジュールを相談。照射対象が動物の場合SPFマウスのみ使用可能。

設備名 型式 メーカー 保有部局 設置場所 設置地区 管理組織 担当 内線 備考